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科技與設(shè)計(jì)(集成電路設(shè)計(jì)、失效分析與可靠性分析)理學(xué)碩士
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MSc Technology and Design (IC Design, Failure Analysis and Reliability)
工科
計(jì)算機(jī)
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專業(yè)方向
計(jì)算機(jī)
入學(xué)時(shí)間
9月
項(xiàng)目時(shí)長(zhǎng)
1年
項(xiàng)目學(xué)費(fèi)
62130新幣/年
項(xiàng)目官網(wǎng)
https://www.sutd.edu.sg/programme-listing/mtd-ic-design-failure-analysis-and-reliability/
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新加坡科技設(shè)計(jì)大學(xué)科技與設(shè)計(jì)(集成電路設(shè)計(jì)、失效分析與可靠性分析)理學(xué)碩士項(xiàng)目旨在滿足半導(dǎo)體行業(yè)對(duì)不僅擁有先進(jìn)理論知識(shí)而且還擁有實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的熟練專業(yè)人員日益增長(zhǎng)的需求。該課程旨在為學(xué)生提供半導(dǎo)體器件技術(shù)和架構(gòu)、數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)、半導(dǎo)體材料分析、器件和集成電路可靠性以及故障分析以提高產(chǎn)量等領(lǐng)域的全面知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)。
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國(guó)際生
提前批次
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:申請(qǐng)量過(guò)大,相應(yīng)的申請(qǐng)有延遲或者無(wú)法拿到offer的風(fēng)險(xiǎn)。
國(guó)際生
:本條是指國(guó)際生截止日期
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设计创新
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半导体器件技术与设计:硅及其他
Semiconductor Device Technology and Design: Silicon and Beyond
数字IC设计
Digital IC Design
设计科学
Design Science
半导体技术的材料和设计
Materials and Design for Semiconductor Technology
先进 CMOS 器件的可靠性工程和故障分析
Reliability Engineering and Failure Analysis of Advanced CMOS Devices
IC 生产的晶圆制造、缺陷表征和产量提高
Wafer Fabrication, Defect Characterisations and Yield Enhancement for IC Production
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